Konferencja Naukowa Studentów » 2004 » Fotonika i nanotechnologie
Strony: « 1 | 2 | 3 | 4 | »

Analiza tłumienności dwójłomnych światłowodów fotonicznych w funkcji ich parametrów konstrukcyjnych cd.

Czwartek, 19 marca

3. WYNIKI OBLICZEŃ

3.1. DWóJŁOMNOŚCI STRUKTUR WYJŚCIOWYCH I ZOPTYMALIZOWANYCH

Na rys. 4 przedstawione zostały obliczone przebiegi dwójłomności modowej w funkcji długości fali świetlnej dla struktur wyjściowych (rys. 4a) i zoptymalizowanych (rys. 4b). Struktury B i C charakteryzują się podobnymi wartościami dwójłomności w całym zakresie spektralnym, przy czym są one znacznie mniejsze niż dwójłomność struktury A. Struktura D zoptymalizowane pod względem ilości elementów strukturalnych zachowuje parametry struktur wyjściowej (A). W strukturze E, która jest zoptymalizowaną wersją struktury B, ujawnia się znaczący wzrost dwójłomności spowodowany zwiększaniem średnicy otworów płaszczowych.


Rys. 4. Dwójłomność w funkcji długości fali dla struktur A, B i C (a) oraz D i E (b).

3.2. TŁUMIENNOŚCI STRUKTUR WYJŚCIOWYCH I ZOPTYMALIZOWANYCH

Rys. 5 przedstawia obliczoną zależność tłumienności od długości fali dla modu podstawowego E11 i modu pierwszego rzędu E21 struktur wyjściowych (rys. 5a) i zoptymalizowanych (rys. 5b). Przebieg tłumienności modu pierwszego rzędu określa jednomodowy zakres pracy analizowanych struktur. Można przyjąć, że mod E11 jest odcinany, gdy jego tłumienność wzrasta do poziomu kilkudziesięciu dB/m. Oznacza to, że struktura C jest co najmniej dwumodowa w analizowanym zakresie spektralnym. Rys. 4b pozwala porównać parametry struktur zoptymalizowanych D i E z parametrami struktur wyjściowych A, B. Porównanie to pokazuje, że znaczne zmniejszenie liczby kanałów powietrznych w płaszczu praktycznie nie zmienia tłumienności obu struktur, a w przypadku struktury E prowadzi do znacznego zwiększenia dwójłomności do poziomu 10-3.

Czytaj dalej

Artykuły z tej samej kategorii
1. Wpływ parametrów geometrycznych złącz światłowodowych na właściwości transmisyjne łącza optycznego
2. Optymalizacja podłoży z warstwą porowatego dwutlenku krzemu diosd dla metody spektrometrii masowej time-of-flight
3. Metody osadzania materiałów AIII-N na podłożu krzemowym

powrót »

Kategorie


projekt i wykonanie: smetek.biz