One future solution for overcoming the growing gap between the internal and external clock rates of today’s integrated circuits lies undoubtedly in usage of optical interconnection technology on the PCB level. The requirements for PCB integration call for structural dimensions, which enable multi-mode transmission only. Up to now the theoretical basis for simulation of highly multi mode waveguides is still developing. However it is common knowledge that the launching condition strongly influences the mode distribution. This is the reason why an empiric attempt for characterizing the waveguide’s light guiding properties was performed. For quality assessment of integrated waveguides a computer controlled set-up for attenuation measurement was realized. The evaluation was carried out on the example of the “waveguide-in-copper” technology. The respective technology yields PCB integrated polymer waveguides. The paper analyzes the particularities of highly multi-mode structures in principle. By means of preliminary measurements the effect of different coupling conditions on the mode distribution is discussed. Furthermore the influence of changes in mode distribution for the power transmission is presented.
Autorzy: Michał DUŻYNSKI, Ralf RIESKE, Klaus-Jürgen WOLTER, Sergiusz PATELA

Nanostructured materials with ordered arrays of holes or rods are practical realisation of photonic band-gap concept. In this article we present useful method for fabricating periodic arrays of random in shape and size openings. This method is based on exposing thin photoresist film with two interfering laser beams. Formerly experimental exposing setup with pulsed Nd-YAG laser was utilised to fabricate diffraction gratings in positive photoresist films, which was a base for grating coupler device. An idea of making use of the same setup as mentioned above with two-step exposure of photoresist was first proposed in 1975 [3], although no further concept of periodic arrays employment was given then. We show two examples of obtained periodic structures in exposure setup where the sample was rotated through an angle α (inclination angle) about an axis normal to the substrate surface approximate to 750 and 900. In both cases two sets of one-dimensional grating with period of 1.26 μm were used. Two different shapes of openings in photoresist were a result of test exposure. Nearly circular openings with diameter of 780 nm were achieved. The periodicity of resulting array, grid pattern, shape of the openings and the size of the openings can be varied by varying different exposure parameters which can lead to fabricating two - dimensional photonic crystal [4].
Autorzy: Rafał DYLEWICZ, Jarosław MYŚLIWIEC, Sergiusz PATELA, Andrzej MINIEWICZ

Straty mocy podczas propagacji fali świetlnej spowodowane są przede wszystkim absorpcją materiałową, rozpraszaniem na niejednorodnościach struktury światłowodu oraz zjawiskiem wyciekania energii z prowadzonego modu. W komunikacie przedstawione zostaną wyniki numerycznej analizy strat mocy spowodowanych efektem wyciekania modu w dwójłomnych światłowodach fotonicznych.. Obliczenia strat zostały przeprowadzone dla modu podstawowego (E11) i modu pierwszego rzędu (E21) metodą multipolową w szerokim zakresie spektralnym w funkcji parametrów konstrukcyjnych, takich jak typ struktury powodującej dwójłomność, liczba otworów i ich rozmiar. Prezentowane wyniki mogą zostać wykorzystane do optymalizacji konstrukcji dwójłomnych światłowodów fotonicznych.
Autor: Jacek OLSZEWSKI

Przy obecnych szybkościach transmisji i coraz większych mocach transmitowanych w sieciach, jakość i niezawodność złączy światłowodowych jest krytycznym elementem poprawnego działania sieci. Zawodność sieci teleinformatycznej wywołana złą jakością złączy, może być praktycznie wyeliminowana poprzez uwzględnienie zagadnień związanych z niezawodnością i jakością złączy światłowodowych. Organizacja Telcordia (dawna Bellcore) opracowała specyfikacje dotyczące elementów sieciowych, głównie w celu zapewnienia niezawodności sieci.

Norma Gr-326-CORE definiuje m.in. akceptowalny zakres tłumienności przejściowej, tłumienności odbiciowej oraz parametry geometrii złącz światłowodowych. Anomalie występujące powszechnie w procesie montażu złączy mogą w istotny sposób wpływać na jakość sygnału transmitowanego przez złącze. Najbardziej krytycznym etapem wykonania złączki światłowodowej jest proces polerowania powierzchni czołowej. Błędy występujące podczas tego procesu bezpośrednio wpływają na wartość parametrów transmisyjnych złącza tj. na tłumienność przejściową (IL) i tłumienność wsteczną (RL).
Autorzy: Dominik Szymański, dr hab. Sergiusz Patela

Zaprezentowano prace nad poprawą właściwości podłoży krzemowych z warstwami porowatego dwutlenku krzemu przeznaczonych do stosowania w spektrometrii masowej z pomiarem czasu przelotu (TOF). Opracowano stanowisko do strukturyzacji warstw porowatych. Zoptymalizowano procedurę technologiczną podłoży krzemowych z porowatym dwutlenkiem krzemu. Przeprowadzono badania kalocholaminy, uzyskując widmo masowe z zakresu poniżej 180 Da.
Autor: Jakub WĘGRZYN